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10-3系列通孔兩點式塞規 DIATEST塞規式測量系統*的導向體設計,保證了測量結果的可靠性,解決了孔徑測量的對中難題,減少了人為因素對測量結果的影響,可方便、快速、準確得出測量結果。 測頭為非標定制,按圖紙及使用要求加工制作!
10-2系列通孔兩點式塞規 DIATEST塞規式測量系統*的導向體設計,保證了測量結果的可靠性,解決了孔徑測量的對中難題減少了人為因素對測量結果的影響,可方便、快速、準確得出測量結果。 測頭為非標定制,按圖紙及使用要求加工制作!
DIATEST塞規測量座 CS 200測量座DIATEST塞規式測量系統*的導向體設計,保證了測量結果的可靠性,解決了孔徑測量的對中難題,減少了人為因素對測量結果的影響,可方便、快速、準確得出測量結果。 測頭為非標定制,按圖紙及使用要求加工制作!